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高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率 「簡單•易懂的操作」
從軟件到硬件凝結了全新技術，鑄就了新一代EPMA。島津EPMA掃描探針顯微鏡在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上，又新增了簡單·易懂的操作性能，將電子探針功能發揮至*致。既可滿足初學者簡易操作的需求，又能適合專家級的科研分析。
前沿設計的X射線分光器可以實現高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝一*
圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。
從SEM觀察到開始分析，簡便易行，大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學圖像和SEM圖像
在同一個顯示器上觀察光學圖像和SEM圖像。
SEM圖像和光學圖像在同一顯示器上，減少視線的移動。
通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察。
只需點擊【SEM AUTO】圖標，就可以根據事先設定的條件進行SEM圖像的觀察。
束流變換更加簡單·快速·高精度，且保持聚焦。
只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設定束流。
通過聯動控制，束流大小改變后也能保持圖像聚焦狀態。
※掃描探針顯微鏡外觀及規格的變動，恕不另行通知。
